Công ty này cho biết có hai lỗ hổng riêng biệt với pin Galaxy Note 7. Theo Recode, ở sự cố đầu tiên đã có lỗ hổng thiết kế ở góc trên bên phải, có thể gây ra hiện tượng đoản mạch. Ở trường hợp thứ hai - áp dụng cho các thiết bị thay thế - đã có một vấn đề sản xuất có thể dẫn đến sự cố cháy nổ do một khiếm khuyết khi hàn. Bên cạnh đó, ở trường hợp thứ hai, một số pin thay thế cũng bị bỏ sót băng cách điện.
Samsung đã tiến hành một cuộc điều tra với 700 nhân viên chuyên biệt, thử nghiệm 200.000 điện thoại và 30.000 pin dự phòng. Họ cũng kết hợp với 3 công ty bên ngoài là UL, Exponent và TUV Rheinland với kết quả đều cho lý do tương tự.
Tuần trước, báo cáo của The Wall Street Journal nói rằng lô hàng đầu tiên gặp vấn đề xuất phát từ việc kích thước pin do Samsung SDI sản xuất lớn hơn so với thiết kế. Việc chuyển đổi gấp từ pin Samsung SDI sang ATL đã gây ra vấn đề với điện thoại thay thế.
Recode cũng đã có cuộc phỏng vấn với người đứng đầu Samsung Mỹ Tim Baxter để chứng thực thông tin này. Vị quan chức này cho biết: “Chúng tôi tin rằng nếu không có vấn đề x uất xuất trong đoạn đường nối giữa pin Samsung SDI sang ATL, Galaxy Note 7 vẫn sẽ tồn tại trên thị trường”.
Được biết, hồi đầu tháng này, Samsung Electronics đã ban hành dự đoán thu nhập lợi nhuận của hãng, với con số lớn nhất trong 3 năm qua, và tăng gần gấp đôi lợi nhuận hoạt động của cùng kỳ năm trước. Công ty Hàn Quốc dự kiến sẽ công bố báo cáo chính thức vào ngày 24/1.
Dưới đây là một số thông tin về lỗi kỹ thuật được phát hiện với pin Galaxy Note 7, được diễn giải thông qua đồ họa.
Kiến An
