Đã xác định được nguyên nhân gây cháy nổ trên Note 7 là do lỗi thiết kế pin.
Theo một báo cáo mới, thiết kế siêu mỏng của pin sử dụng trong Galaxy Note 7 có thể là nguyên nhân đứng đằng sau hàng loạt vụ nổ đã khiến Samsung phải rút chiếc phablet này ra khỏi thị trường. Theo đó, cái cách mà pin Note 7 được thiết kế, là 2 lớp polymer thấm thuốc điện giải được sử dụng để tách một lớp dương lithium cobalt oxide và một lớp âm than chì. Nếu 2 lớp âm dương trên chạm vào nhau, chất điện giải sẽ nóng lên và gây ra cháy nổ.
Như báo cáo đã chỉ ra, việc nén pin sẽ gây ra việc 2 lớp âm dương này bị ép lại với nhau. Ngoài ra, thiết kế pin mỏng còn làm cho pin dễ bị phồng do áp lực pin gây ra. Áp lực này, đến từ lực tác động lên vỏ sau của điện thoại nén vào pin (ví dụ như khi bỏ điện thoại vào túi quần sau và ngồi lên ghế). Tuy nhiên, Samsung đã chủ quan và tin tưởng quá mức vào quy trình thiết kế pin của mình.
Để làm cho chiếc điện thoại mỏng hơn, pin đã được thiết kế sao cho càng mỏng càng tốt trong khi vẫn đảm bảo dung lượng ở mức tối đa. Báo cáo cho biết, nếu phablet này không được thu hồi kịp thời, toàn bộ số Galaxy Note 7 đó sẽ bị phá huỷ hoàn toàn.
Thực tế đã cho thấy, cơ sở vật chất và quy trình kiểm nghiệm của Samsung đã không đáp ứng được yêu cầu và hơn nữa, Samsung lại quá tin tưởng vào quy trình kiểm nghiệm của mình mà không đem sản phẩm đi kiểm tra ở một bên thứ 3 như các nhà sản xuất smartphone khác, theo trang tin Instrumental.
Samsung đã tự bắn vào chân của mình. Theo tính toán, công ty sẽ mất hơn 5 tỷ USD doanh thu và các chi phí liên quan khác để thu hồi Galaxy Note 7.
Thu Hà theo Phonearena
