Báo cáo nói rằng Samsung có ‘bằng chứng không đầy đủ’ rằng pin được sản xuất bởi Samsung SDI có vấn đề để đổ lỗi cho sự cố Galaxy Note 7 bốc cháy ở thời điểm thông báo thu hồi.
CEO DJ Koh đã nhìn vào ảnh quét từ tia X-quang và nhận thấy pin Galaxy Note 7 đã nhô ra từ vỏ của điện thoại, xuất phát từ pin do Samsung SDI sản xuất và không bao gồm pin do ATL của Trung Quốc thực hiện. Vấn đề là chỉ có 30% số lượng Galaxy Note 7 ban đầu được trang bị pin từ ATL.
Nhưng hóa ra pin không phải là tất cả nguyên nhân của vấn đề. Làn sóng vụ nổ thứ hai đã xảy ra với phiên bản sửa lỗi pin mà Samsung phân phối đến những người đã mua Galaxy Note 7 đợt đầu tiên sau khi họ gửi thiết bị thu hồi. Với sai lầm trong dự đoán ban đầu, Samsung tiếp tục phải vào cuộc điều tra vụ nổ Galaxy Note 7. Một số giải thích cho vấn đề bao gồm lỗ hổng có thể trong bảng mạch, hoặc một vấn đề với phần mềm điều khiển khiến pin hoạt động không chính xác. Một suy nghĩ khác cũng được đưa ra cho rằng pin có thể quá nhỏ với khay chứa trên Galaxy Note 7.
Trọng tâm Samsung đã đặt vào việc điều tra nguyên nhân Galaxy Note 7 bốc cháy đã buộc hãng phải trì hoãn sự phát triển của Galaxy S8 trong hai tuần. Công ty hy vọng điện thại cao cấp mới của hãng sẽ đưa mọi người thoát khỏi ký ức buồn về Galaxy Note 7.
Các tin đồn hồi đầu tháng này nói rằng Galaxy S8 sẽ được công bố vào ngày 26/2, trước thềm sự kiện MWC 2017 được khai mạc - vốn là truyền thống ra mắt flagship của Samsung từ trước đến nay. Dẫu vậy không rõ liệu kế hoạch này có bị ảnh hưởng bởi sự chậm trễ nói trên hay không.
Phát ngôn viên của Samsung trong một tuyên bố nói rằng “Chúng tôi nhận ra rằng chúng tôi đã không xác định đúng vấn đề ở lần đầu tiên và cam kết sẽ tìm ra nguyên nhân gốc rễ sự cố. Ưu tiền hàng đầu của chúng tôi là sự an toàn của khách hàng, và chúng tôi sẽ cố gắng thu hồi 100% Galaxy Note 7 có mặt trên thị trường”.
Nhã Vân theo WSJ